부록2.

운영정보표시장치

시험 요구사항

2020. 07.

게임물관리위원회

목차

1. 일반사항	3

1.1 문서 정보	3

1.2 개정 이력	3

1.3 제/개정권	3

1.4 목적	3

1.5 문서 구조	3

1.6 용어 및 약어 정의	4

1.7 참조 문서	5

2. 시험·평가 준비사항	6

2.1 제출물	6

2.2 시험용 발급 데이터	6

2.3 시험 전 확인 사항	6

3. OIDD의 적합성시험 요구사항	7

3.1 H/W 설계적합성 요구사항	7

3.2 S/W 기능적합성 요구사항	8

4. OIDD의 신뢰성 요구사항	9

5. OIDD의 보안성 요구사항	10

5.1 OIDD 보안기능 시험 요구사항	10

6. OIDD의 성능 요구사항	11

6.1 범용 통신 규격 호환 및  성능 요구사항	11

6.2 판독장치 통신 성능 요구사항	12

6.3 자체 진단 성능 요구사항	12

6.4 소비전력 등 기타 성능 요구사항	12

1. 일반사항

1.1 문서 정보

본 문서의 식별정보는 다음과 같다.

제 목	운영정보표시장치 시험 요구사항
버 전	v1.4
작성일	2020년 07월

1.2 개정 이력

본 문서의 개정이력은 다음과 같다.

버전	날짜	이력
1.0	2015.04	제3기 운영정보표시장치 사업자 선정을 위한 기술요구사항 정의
1.1	2015.12	요구사항 조정에 따른 개정
1.2	2018.07	요구사항 조정에 따른 개정
1.3	2020.06	일부 시험항목 보완 및 시험항목 삭제
1.4	2020.07	일부 시험항목 보완 및 문서 오기입 및 오탈자 수정

1.3 제/개정권

본 문서의 제/개정권은 게임물관리위원회(이하 “위원회”)에 있다.

1.4 목적

본 문서는 운영정보표시장치 기능, 성능 및 보안기능 시험 위한  세부 시험 요구사항, 권고사항 등을 정의한다.

1.5 문서 구조

본 문서는 5장으로 구성된다.

- 1장은 문서 식별정보 및 작성 목적에 대해 설명한다.

- 2장은 운영정보표시장치 시험·평가 준비사항에 대해 설명한다.

- 3장은 운영정보표시장치 기능적합성 요구사항에 대해 설명한다.

- 4장은 운영정보표시장치 신뢰성 요구사항에 대해 설명한다.

- 5장은 운영정보표시장치 보안성 요구사항에 대해 설명한다.

1.6 용어 및 약어 정의

본 문서에서 사용되는 용어는 다음과 같이 정의한다.

운영정보표시장치(OIDD, Operation Information Display Device)

게임 제공업소용 아케이드 게임기 사이에서 게임 운영정보를 저장하고 표출하며, 이를 판독하고자 하는 기관(게임물관리위원회, 수사기관 등)에 정보를 전달하는 장치. 본 기술요구사항에서 칭하는 “운영정보표시장치” 또는 "OIDD"는 기구, HW, 내장된 SW, GSAM 및 비휘발성 메모리(NVM)를 포함한다.

SAM(Secure Application Module)

운영정보표시장치 데이터의 기밀성, 무결성 및 상호 인증 등 보안 관련  기능을 수행하는 스마트카드. 본 기술요구사항에서 칭하는 SAM은 운영정보표시장치에 설치되는 GSAM(Game Secure Application Module) 또는/및 판독장치에 설치되는 VSAM(Verification Secure Application Module)을 말한다.

DTA(Device Test Application)

시험을 위한 프로그램으로 시험요구사항에서 제시하는 항목들의 원활한 시험 진행을 위해 OIDD를 제어하여 시험에 특화된 기능을 활성화 할 수 있도록 설정할 수 있는 프로그램으로 OIDD자체에 위 기능 수행을 위한 S/W가 포함되어야 하고 실제 운영환경에 영향을 미쳐서는 안된다.

SDA(SD협회, SD Association)

SD메모리 카드에 관한 기술의 표준화나 각사 제품의 호환성 확보, 보급 촉진 등을 꾀하는 업계 단체

USB-IF(USB Implementers Forum)

USB Implementers Forum(USB-IF)는 Universal Serial Bus Technology(USB)의 채택과 사용의 권장을 위한 포럼과 조직을 지원하기 위해 형성된 비영리 조직이다. 통신 적합성 확보를 위한 자체 인증 제도를 운영하고 있다.

NVM(NVM, Non-volatile Memory)

비휘발성 메모리. 전원이 공급되지 않아도 저장된 정보를 계속 유지하는 저장장치로 반도체 chip 형태로는 Nand Flash, Nor Flash, EEPROM 등이 있으며 장착형으로는 (micro) SD카드, USB memory stick 등이 해당된다.

1.7 참조 문서

본 문서에서 참조하는 문서는 다음과 같다.

	문 서
[R1]	전체이용가 경품 게임물용 운영정보표시장치 표준 통신 규격 매뉴얼
[R2]	청소년 이용불가 게임물용 운영정보표시장치 표준통신 규격 제작 매뉴얼
[R3]	운영정보표시장치 설계제조 지침
[R4]	운영정보표시장치 기술요구사항 정의서

2. 시험·평가 준비사항

2.1 제출물

“운영정보표시장치”(이하 OIDD) 품질 시험을 위해 다음의 자료를 제출해야 한다.

① 완제품 상태의 OIDD 시료 4개(전체이용가 2개, 청소년이용불가 2개), 이 중 시료의 반(전체이용가 1개, 청소년이용불가 1개)은 케이스가 개봉된 상태에서도 동작되도록 제공

② USB Device Driver

③ H/W 및 S/W 부문별 제품 사양서, 블록다이어그램, 설명서

④ 비정상 매체 자가 진단, OIDD보안기능 관련 자체 시험결과서

⑤ 테스트용 VSAM 1개 및 판독 프로그램

⑥ OIDD F/W 소스코드 확인을 위한 환경

⑦ OIDD F/W 최종 이미지(바이너리) 파일

⑧ 제출된 자료는 ‘게임물관리위원회’에 귀속된다.

2.2 시험용 발급 데이터

① gameID 및 gameInitKey 등 OIDD 발급데이터는 시험기관과 협의한다.

② SAM 관련 발급데이터는 시험기관과 협의한다.

2.3 시험 전 확인 사항

① 제출물 리스트 누락 여부

② 제출문서 검토를 통한 요구사항 준수 여부

③ 제출된 OIDD시료의 기구, H/W사양 등 설계 요구사항 준수 여부

④ 자체 시험결과서(비정상 매체 자가 진단, OIDD보안기능 관련)를 검토하여 시험요구사항의 관련항목들을 모두 만족하도록 구현되었는지 여부

3. OIDD의 적합성시험 요구사항

OIDD가 [R1],[R2],[R3] 및 [R4] 규격을 준수하여 일련의 기능을 적합하게 제공하고, 응답시간단축하고, 처리율을 높이는지 여부를 확인한다. 또한, 동전투입기, 지폐투입기, 경품 투입기, 경품 배출기의 전용 통신 규격에서 통신 신호의 전기적, 타이밍적 특성이 요구사항을 준수하며, [R1] 및 [R2]에 정의된 통신 프로토콜 준수, 에러 처리 및 복구 절차가 적합한지 여부를 확인한다.

3.1 H/W 설계적합성 요구사항

기구 및 H/W 사양

시험자가 제출한 설계 문서 및 제출한 제품은 동일하여야 한다.

항목	세부 항목	요구 사항	비고
H/W	설계 사양	설계 요구조건을 만족해야 한다.	제출문서
	H/W 보호	외부 연결포트에 유입될 수 있는 유해요소에 대한 보호성능을 갖추어야 한다. 정전기 : 접촉방전 : ± 4 kV, 기중방전 : ± 8 kV 전원역삽 : 12V, 5V 전원 역삽	정전기 전원역삽
	RTC정확성	주기적인 전원 투입/차단 후의 오차, 연속동작시험, 온습도동작시험에서 RTC의 오차는 5 ppm 이내여야 한다.
	부팅시간	전원 투입 후 동기화 시점까지 5초이내

주변장치 인터페이스

동전투입기, 지폐인식기, 경품 인식기, 경품 배출기 등 특수 IO통신방식의 전기적, 신호파형적, 타이밍적 특성을 확인한다.

항목	시험 요구 사항	비고
통신 신호의 전압특성	3.0 V ~ 5.5 V 전압 변화에 따른 입력 신호 감지
통신 신호의 타이밍특성	10 ms ~ 200 ms 신호 펄스 가변에 대한 정상인식여부
비정상 신호처리	비정상 상황별 입수 금액 처리 여부 (지폐투입: 한번의 연속적인 신호가 1000, 5000, 10000, 50000 이외의 펄스입력) (동전투입: 한번의 연속적인 신호가 100, 500 이외의 펄스입력)

3.2 S/W 기능적합성 요구사항

운영정보의 생성 및 송·수신

[R1] 및 [R2]에 정의된 통신규격(정상, 오류, 타이밍, 데이터 포맷 등)을 만족하여야 한다.

항목	세부 항목	요구 사항	비고
ASN.1	1.1 게임기 CRC 오류 메시지 처리	CRC 체크 여부 확인
	1.2 ASN.1 rule 위반 PDU	에러 PDU 수신후 정상 통신 PDU 처리 여부
프로토콜	2.5. 운영정보표시장치 연결해제	성공, 실패
	2.6. 연결확인	성공, 게임ID오류, 초기화키오류
	2.7. 투입 금액	동전/지폐투입 각각 실시, 각 금액별, 성공 및 실패 상황
	2.8.1 경품아이템 카드 투입	성공, 실패	전체이용가
	2.8.2. 지폐/동전/아이템카드 JAM 에러	지폐/동전/아이템카드 JAM 에러시 처리 여부
	2.8.3. 지폐 인식 에러 처리	지폐/동전의 입력과 게임기와의 투입금의 차이가 발생할 경우 처리 여부
	2.8.4. 지폐 입수 에러 처리	성공, 실패
	2.9. 사용 가능 금액	성공, 실패
	2.10. 게임사용금액[점수]	성공, 실패
	2.11. 획득게임금액 또는 Clear Stage수	성공, 실패
	2.12. 한게임에 발생한 누적획득 게임점수 또는 최종 Clear Stage수	성공, 실패
	2.13.1 경품 배출 처리 절차 PDU	성공, 실패, 경품종류/배출기번호	전체이용가
	2.14. 게임 시작(절차)	성공, 실패
	2.15. 게임 종료(절차)	성공, 실패
	2.16. 링크 요구(절차)	성공, 실패
	2.17. 장치 에러(절차)	성공, 실패, 에러코드
	2.18. 날짜 및 시간 조회	성공, 실패
	2.19. 부가게임 및 이벤트게임 처리	성공, 실패
	2.20. 게임 딜레이 처리	성공, 실패
화면 표시	3.1. LCD 화면 표시	준수 여부
프로토콜	2.8.5. 경품아이템 카드 투입(시리얼타입)	성공, 실패	전체이용가
	2.13.5 경품 배출 처리 절차 PDU(연속배출)	성공, 실패	전체이용가

4. OIDD의 신뢰성 요구사항

4.1 운영정보의 신뢰성 시험 요구사항

항목	시험 요구 사항	비고
연속동작	상온에서 게임 시뮬레이션을 통해 168시간 연속동작 시 문제없이 정보 표출 및 운영정보를 정상적으로 저장해야 한다. (운영정보 누락 및 일치 여부 확인 및 RTC 정확성 측정)
고온/저온 환경 보관시험	고온 보관시험은 상온 ~ 70 ℃ 사이로 2시간 주기 온도 교차로 총 4주기 보관 후 정상동작 확인(총 16시간) 저온 보관시험은 상온 ~ -20 ℃ 사이로 2시간 주기 온도 교차로 총 4주기 보관 후 정상동작 확인(총 16시간)
온습도환경 동작시험	온도 -5 ℃ ~ 50 ℃, 습도 30 % ~ 90 % 로 온습도 조건의 주기적인 변화(온도 및 습도 상한, 하한 등 4종류로 2시간씩)를 총 4주기(총 32시간) 주었을 때 문제없이 운영정보를 표출하고 정상 동작해야 한다. (운영정보 누락 및 일치 여부 확인 및 RTC 정확성 측정)

5. OIDD의 보안성 요구사항

5.1 OIDD 보안기능 시험 요구사항

구분	시험 요구 사항	비고
불법옵션 확인	불법적인 기능을 수행할 수 있는 옵션 기능이 펌웨어 내부에 없어야 한다.	소스코드 확인
기구 개봉	기구 개봉을 감지하고 그에 적합하게 조치를 해야한다. - 기구 분리 후 모든 기능을 정지해야 한다.	개봉 확인
식별 및 인증	- 등록 또는 인가되지 않은 GSAM, NVM등에 교체시 정상 동작을 중단해야 한다.
	- 슬레이브 NVM 교체시 인가된 사용자를 인식할 수 있는 적절한 인증절차를 수행하여야 한다.

6. OIDD의 성능 요구사항

OIDD의 성능을 평가할 수 있는 지표로 활용하기 위한 시험 요구사항을 기술한다.

6.1 범용 통신 규격 호환 및  성능 요구사항

OIDD와 GSAM, VSAM 통신의 ISO/IEC 7816 규격 호환 및 처리 속도

항목	세부 항목	시험 요구 사항	비고
전기적 특성	VCC, RST, CLK, IO의 전기적 특성	GSAM에 공급되는 VCC, RST, CLK, IO의 전압, Waveform등 전기적 특성이 규격을 준수
	공급 CLK의 주파수	공급되는 CLK의 주파수가 규격내에 있는지와 파형이 규격을 준수
논리적 특성	통신 타이밍	Activation 타이밍, 비트 간격, Waiting 타임 등 규격 준수
	에러 처리 및 복구	에러 발생 시 유형별 에러 처리 후 복구 (GSAM에서 무응답시 3회 재시도, 4회 무응답시 LCD에 표출 및 기능 정지)

OIDD와 SD카드 통신의 SDA 규격 호환 및 처리 속도

항목	세부 항목	시험 요구 사항	비고
전기적 특성	VCC 및 IO의 전기적 특성	공급 전압 및 사용되는 버스방식에 따른 IO들의 전기적 특성이 규격을 준수	Master 및 Slave 모두 확인
논리적 특성	통신 타이밍	통신속도, 비트 간격, Waiting 타임 등 규격 준수	Master 및 Slave 모두 확인

6.2 판독장치 통신 성능 요구사항

항목	시험 요구 사항	비고
판독추출 속도	설계 및 구현에서 다양한 기법을 동원하여 판독속도를 향상시켜야 한다. (3GB 기준으로 판독속도 정량적 측정, 1시간 이내일 것)
통신 에러율	판독추출 중 통신 에러가 발생하지 않아야 한다. (통신로그 분석을 통한 에러율 산출, 에러율이 0 % 일것)

6.3 자체 진단 성능 요구사항

비정상 매체 자가 진단

항목	시험 요구 사항	비고
용량부족 저장매체	요구사항보다 적은 용량의 저장매체를 OIDD가 구분	LCD로 표출
불량 저장매체	고장난 저장매체를 OIDD가 구분
저장용량초과	저장용량을 초과했을 때 과거 데이터 영역부터 새로 기록해야 한다. (가장 오래된 영역이 최신 기록으로 저장되는지 확인)
불량 GSAM	불량 GSAM을 OIDD가 구분
미발급 GSAM	미발급 GSAM을 OIDD가 구분

6.4 소비전력 등 기타 성능 요구사항

항목	시험 요구 사항	비고
OIDD 소비전력	OIDD의 평균소비전력는 4.5 W 이하일 것
배터리 용량 적정성	전원 미공급시 배터리의 대기시간은 배터리 완전충전 후 180일 이상일 것 배터리의 대기시간 = 배터리 용량(mAh)/부하 전류(mA) * 0.70 를 적용하고 일단위로 환산함
전원 차단 순간 피크전류	OIDD가 동작되고 있는 중에 갑작스러운 전원차단시 배터리에서 소비하는 피크전류 측정	배터리 용량 등 참고자료
메모리 동기화 속도	슬레이브 NVM 교체 후 마스터 NVM의 파일이 새로 교체된 슬레이브 NVM과 동기화가 이루어지는 속도를 측정한다. (3GB 기준, 30분 이내일 것)

별첨1.

OIDD 구현 적합성 확인서

추후 제공